X射線CT探傷技術(shù)的優(yōu)勢在于可以對產(chǎn)品的內(nèi)外結(jié)構(gòu)和尺寸進行無損測量，一次掃描即可同時完成產(chǎn)品的尺寸檢測與材料質(zhì)量控制，相比于傳統(tǒng)接觸式的或光學設(shè)備的難以探測內(nèi)部結(jié)構(gòu)的掃描方式，使用工業(yè)CT技術(shù)將是一個理想的解決方案。但是，由于工業(yè)ct檢測過程受很多復(fù)雜因素影響，目前為止對于工業(yè)CT設(shè)備的測量精度及置信度尚無法給出確切的回答，這也成為限制工業(yè)CT測量技術(shù)發(fā)展的瓶頸。

　　X射線CT測量誤差主要來源分析可以從以下幾個方面著手，尤其需要注意的是在利用高精度外部尺寸測量結(jié)果對工業(yè)CT數(shù)據(jù)進行校準時，尤其對于使用平板探測器的系統(tǒng)來說，需要校準的尺寸應(yīng)包含樣品X-Y和X-Z兩個平面(即平行和垂直與探測器的平面)，工業(yè)CT數(shù)據(jù)在這兩個方向上單個像素尺寸往往并不相等，這取決于重建矩陣的選擇。故在工業(yè)CT掃描過程中，應(yīng)盡量避免樣品放置時上下端面與射線平行，或者說應(yīng)該盡量避免樣品上下端面垂直于旋轉(zhuǎn)軸，否則導(dǎo)致樣品上下端面應(yīng)采樣不足，帶來SDK重建為引，消除因采樣不足導(dǎo)致的重建為引可以通過改變樣品的放置方式來解決，例如以15度放置。
 

　　從投影重建圖像過程中，最主要的影響因素來自于射線硬化及射線散射帶來的圖像，硬化和散射偽影，導(dǎo)致圖像灰度分布，偏離真實分布，給后續(xù)測量及閾值風格帶來困難，這些偽影如果不經(jīng)過適當?shù)男Ｕ?，會?dǎo)致測量的可靠性降低。

　　一般來說減弱射線硬化影響，可以通過在采集數(shù)據(jù)時放置前置濾波板來調(diào)節(jié)，也可以通過后續(xù)硬化校正算法來改善。

　　雖然硬化、散射偽影和FDK重建偽影導(dǎo)致DR實時成像設(shè)備工業(yè)CT的圖像灰度分布偏離真實的分布給后續(xù)的測量及閾值分割帶的困難，但是，我們通過專業(yè)軟件和提高算法進行校正，會減少誤差，將工業(yè)CT的測量精度提高，在可接受的范圍內(nèi)。

　　數(shù)據(jù)處理過程中影響工業(yè)電視測量的主要因素有邊界閾值的選擇。例如工業(yè)CT重建之后獲得物體的三維模型，在這一數(shù)據(jù)進行測量之前，首先需要選擇適當?shù)挠蛑邓惴▉矸指畈牧吓c空氣或不同材料之間的邊界，也就是所謂的邊緣檢測過程，傳統(tǒng)的閾值算法可能不夠精確，現(xiàn)在我們將通過改進算法，例如使用基于實際表面的邊緣檢測算法，或通過搜索圖像法的方向像素變化能提高邊緣檢測的精度。